7.2 融化錫滴的雷射砲:每秒炸裂 50,000 次融化錫滴以產生極紫外光的雷射等離子體(LPP)光源#
EUV 需要「人造太陽」#
13.5nm 波長對應的光子能量約 92 eV——比 DUV 的 4–6 eV 高出逾 20 倍——沒有「溫和」的方法可以產生它。
唯一可行的工程方案是:把物質打到「等離子體(plasma)」態,等離子體會輻射出極紫外光譜。主要路線有三條:
- LPP(Laser-Produced Plasma):以高功率雷射轟擊錫滴;
- DPP(Discharge-Produced Plasma):電弧放電;
- 自由電子雷射等其他路線(被放棄)。
LPP 是最後的贏家——Cymer(後併入 ASML)在 2000–2015 年間將其工程化。
LPP:如何「炸」出 EUV 光#
第一步:備好一滴錫#
- 錫在約 232°C 熔化;滴管以微米級精度,以每秒約 50,000 次的週期,滴出直徑約 25–30 微米的液態錫滴;
- 錫滴以每秒 70–80 米的速度飛過真空腔。
第二步:兩道「雷射砲」#
- 第一道(pre-pulse):較低功率的雷射在錫滴迎面而來時,把它炸開成一個扁盤狀雲團——使第二步的能量吸收更有效;
- 第二道(main pulse):高功率 CO2 雷射(10.6μm 波長、約 20kW 級)打進錫雲——錫被瞬間加熱到數十萬開爾文(約太陽日冕的溫度等級),形成等離子體,輻射出 13.5nm 的極紫外光。
第三步:收集與傳遞#
- EUV 光由多面金屬反射構成的集光器收集——集光器還要承受等離子體粒子的轟擊;
- EUV 光經中間焦面,再由照明系統送往反射式光罩。
graph LR
A[錫儲罐] --> B[滴管<br/>每秒約 50,000 滴]
C[CO2 雷射] -->|pre-pulse| D[錫滴炸開<br/>呈扁盤狀]
C -->|main pulse| E[等離子體<br/>數十萬 K]
E --> F[反射收集器]
F --> G[真空中間焦面]
G --> H[照明系統 → 反射式 mask]為什麼選錫?#
- 錫原子在不同電離態下的能級躍遷群在 13.5nm 鄰近非常密集,輻射效率極高;
- 錫便宜、供應充足;
- 缺點是污染:未用掉的錫會沉積在反射鏡與腔體表面——必須靠氫氣流沖刷與溫度管理。這套「錫管理」是 ASML EUV 機台最隱祕、也最耗資數億美元的研發重點。
光源功率的十年長征#
| 年代 | 可用 EUV 功率 | 意義 |
|---|---|---|
| 2007 | 約 1W | 僅能演示 |
| 2012 | 約 10W | 工程測試 |
| 2016 | 約 100W | 走向工程可行 |
| 2019 | 約 250W | 量產可行(台積電 7nm 開啟 EUV 元年) |
| 2020s | 500W+(NXE 系列→High-NA EXE 系列) | 產能翻倍時代 |
光源功率直接決定每小時能印多少片 wafer——「功率遊戲」是 EUV 的生命線,也是 ASML 全球研發資金最大的投資點。
全球獨家的難點#
- CO2 雷射本身是特殊改造的高功率雷射——其功率放大鏈是德國 TRUMPF 的專長(ASML 與 TRUMPF 為長期合作夥伴);
- 錫管理系統與腔體的自動清潔是核心祕密;
- 供應商(雷射、錫源、反射鏡、精密 stage)與 ASML 系統整合的緊密結合,構成 EUV 生態(見下節)。
小結#
EUV 光源是半導體設備史上最典型的「系統級工程奇蹟」——把雷射、真空、金屬錫、光學、機台全部縛成一組。下一節看這台機器背後的制度:客戶注資與供應商綁定的生態結構。